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英国Jandel可调节高度自动探头

Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。

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  • 技术参数
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Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。

AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。

可测晶片直径

直径d≤300mm

可测晶片厚度

高度h≤250mm

自动停机

具有接触到样品的传感器(通过传感器检测接触到样品)

手动控制

远程控制

Jandel-RM300能够提供电源和样品接触

系统配置

组成部件(产品配置):

1. 测试台——1个

2. AFPP主机——1个

3. 可调节高度的轴杆——1根

4. 四探针探头——1个

5. 电缆线——一根

设备尺寸

1. 可调节高度测试台:W×L×H(mm)320×370×8

2. AFPP主机:W×L×H(mm)64×215×67

3. 可调节高度轴杆:d(mm)19;L(mm)200(可定制最高额高度到1000mm)

型号

尖角(u

压力(g

间距(mm

A

40

100

1

B

100

100

1

C

200

100

1

D

500

70

1

E

40

200

1.59

F

40

100

0.635

G

100

100

0.635

H

200

100

0.635

与国外供应商合作,源头采购,保证原装正品,为客户提供整体解决方案。